应力双折射仪
WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪
应力双折射仪器简介：
应力双折射仪，能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。
PHL显微镜下的双折射测量WPA-100-MICRO
匹配显微镜测量双折射
测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体
薄膜、金属晶体、不透明基板等材料
在显微镜视场下评估和管理双折射分布
PHL应力双折射仪器参数：
型号 | WPA-Micro |
测量范围 | 0-4000nm |
重复性 | <1.0nm |
像素数 | 384x288 |
测量波长 | 523nm,543nm,575nm |
尺寸 | 250x487x690.0mm |
观测到的面积 | 5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um. |
自身重量 | 11kg |
数据接口 | GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制） |
电压电流 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | WPA-View（for Micro） |
